軍用單片集成電路是軍用電子設備的核心部分。按照軍用環境應用條件要求需要進行高低溫測試， 溫度范圍為-55~125℃。下面，通過用溫度沖擊氣流試驗儀，來 看看對軍用電子產品的試驗應用
試驗設備：環儀儀器 溫度沖擊氣流試驗儀
試驗樣品：運算放大器
試驗設計：在低溫-55℃和高溫125℃對電路進行測試，電路測試時間一般控制在30 s內完成，若電路測試時間超過30 s，測試需分段進行。
試驗分析：
輸出電流Io+在使用溫度沖擊氣流試驗儀的情況下在高溫與低溫下分別為30.2 mA和49.2 mA，輸出電流Io-和輸出短路電流Isc+、Isc-的數據說明了溫度沖擊氣流試驗儀測試情況下的極限值跨度大，即在規定的溫度范圍內，溫度沖擊氣流試驗儀更能體現極限溫度下測參數值的，從而在設計的早期摸底階段可以更準確地驗證極端環境條件下的器件性能特性變化，排除故障風險。
試驗結論：
軍用元器件需要在極端溫度環境下使用，目前在采用烘箱進行高低溫電測試的過程中，由于器件溫度會有一定的回溫現象，對于一些溫度敏感參數而言不能最大程度地測出器件真實的性能特性變化范圍。
應用溫度沖擊氣流試驗儀可以精確控制被測器件殼溫，并能同時進行通電測試器件性能指標特性。在科研階段熱流置給集成電路、模塊及電子元器件等提供了精確的環境溫度，能更有效地對產品電性能進行測試，從而更好地排除早期失效,并提高可靠性分析的準確性。
如需了解更多溫度沖擊氣流試驗儀的試驗應用，可以咨詢環儀儀器相關技術人員。
